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Intense Electron And Ion Beams (particle Acceleration And Detection S.)
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Hardcover. Zustand: New.
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Intense Electron and Ion Beams
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Intense Electron and Ion Beams
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 125,73
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Microwave Electronics
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 137,74
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Microwave Electronics (Springer Series in Advanced Microelectronics, 61)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Intense Electron and Ion Beams
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2005
ISBN 10: 3540242201 ISBN 13: 9783540242208
EUR 118,64
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Comprehensive presentation of the theory and experiments in the field of intense ion and electron beamsIntense Ion and Electron Beams treats intense charged-particle beams used in vacuum tubes, particle beam technology and exp.
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Mikrovolnovaya Elektronika
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 183,64
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 580 pages. 9.25x6.10x1.38 inches. In Stock.
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Intense Electron and Ion Beams
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2005
ISBN 10: 3540242201 ISBN 13: 9783540242208
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Intense Ion and Electron Beams treats intense charged-particle beams used in vacuum tubes, particle beam technology and experimental installations such as free electron lasers and accelerators. It addresses, among other things, the physics and basic theory of intense charged-particle beams; computation and design of charged-particle guns and focusing systems; multiple-beam charged-particle systems; and experimental methods for investigating intense particle beams. The coverage is carefully balanced between the physics of intense charged-particle beams and the design of optical systems for their formation and focusing. It can be recommended to all scientists studying or applying vacuum electronics and charged-particle beam technology, including students, engineers and researchers.
