Gesamtpreis (1 Artikel Artikel):
Versandziel:
mccarthy charles christopher (11 Ergebnisse)
Direkt zu den wichtigsten Suchergebnissen
Suchfilter
Produktart
- Alle Product Types
- Bücher (11)
- Magazine & Zeitschriften (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Comics (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Noten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Kunst, Grafik & Poster (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Fotografien (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Karten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Manuskripte & Papierantiquitäten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Zustand Mehr dazu
- Neu (9)
- Wie Neu, Sehr Gut oder Gut Bis Sehr Gut (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Gut oder Befriedigend (1)
- Ausreichend oder Schlecht (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie beschrieben (1)
Einband
Weitere Eigenschaften
- Erstausgabe (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Signiert (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Schutzumschlag (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Angebotsfoto (5)
Sprache (1)
Gratisversand
Land des Verkäufers
Verkäuferbewertung
-
Program Management in Defense and High Tech Environments (Best Practices in Portfolio, Program, and Project Management)
Anbieter: MusicMagpie, Stockport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 8,71
Währung umrechnenEUR 6,32 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Very Good. 1746951907. 5/11/2025 8:25:07 AM.
-
![Bild des Verkäufers für Double Trouble : The Patchett Collection, [ Two Volume Set ] zum Verkauf von Specific Object / David Platzker](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md32131088366.jpg)
Double Trouble : The Patchett Collection, [ Two Volume Set ]
Verlag: Museum of Contemporary Art, San Diego / Auditorio de Galicia San Diego / Santiago de Compostela, CA / Spain, 1998
ISBN 10: 0934418527 ISBN 13: 9780934418522
Sprache: Englisch
Anbieter: Specific Object / David Platzker, New York, NY, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 17,68
Währung umrechnenEUR 7,29 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorb2 vol. : vol. 1 : 143 pp. ; vol. 2 : 281 pp.; 2 vol. : vol. 1 : 27.6 x 21.2 cm. ; vol. 2 : 27.6 x 21.2 cm.; sewn bound; black-and-white & color; edition size unknown; unsigned and unnumbered; offset-printed; Two volume exhibition catalogue published in conjunction with show held at the Museum of Contemporary Art, San Diego, July 27 - September 5, 1998. Traveled to Museo de las Artes and Instituto Cultural Cabañas, Guadalajara, México, September 10 - November 22, 1998; Museo de Monterrey, Mexico, February - April, 1999; Museo Universitario Contemporáneo de Arte, Mexico City, April - June, 1999; Auditorio de Galicia and Iglesia San Domingos de Bonaval, Santiago de Compostela, Spain, July 10 - September 5, 1999 and Sala Amos Salvador, Logroño, Spain, November 1999 - February 2000. Volume one texts by Elizabeth Armstrong, Julian Zugazagotta, and Kevin Power. Volume two texts by Karal Ann Marling and an interview with Ralph Rugoff by Tom Patchett. Texts about the artists in the exhibition, in both volumes, by Tania Owcharenko Duvergne, Rita Gonzalez, Melissa Ho, Karal Ann Marling, Holly Myers, and CC:Collector's Comments. Artists (A - L, Vol. 1) include Janine Antoni, John Baldessari, Beattie & Davidson, Joseph Bertiers, Joseph Beuys, Dominique Blain, Chris Burden, Mónica Castillo, Chema Cobo, Meg Cranston, Georganne Deen, Georganne Delvoye, Marcel Duchamp, Nicole Eisenman, Fluxus, Llyn Foulkes, Robert Gober, David Hammons, David Ireland, Ray Johnson, Mike Kelley, Martin Kippenberger, Rachel Lachowicz, Sherrie Levine, and Charles Long. Artists (M - Z, Vol. 2) include Daniel J. Martinez, Paul McCarthy, Cady Noland, Manuel Ocampo, Claes Oldenburg, Yoko Ono, Dennis Oppenheim, Rubén Ortiz Torres, Burt Payne 3, Raymond Pettibon, Alan Rath, Charles Ray, Man Ray, Edward Ruscha, Cindy Sherman, Kiki Smith, Mark Tansey, Fred Tomaselli, Andy Warhol, John Wesley, and Christopher Wool, as well as Americana, Neon Signs, and Vernon Kilns Dinnerware. Texts in English and Spanish. Very Good. Yellowing and light soiling of covers with light bumping of corners. Light yellowing of pages. Two-volume set. The contents are clean and unmarked. Due to the large size and weight, additional shipping charges will be required for international orders.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments (Best Practices in Portfolio, Program, and Project Management)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 63,11
Währung umrechnenEUR 7,49 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
-
EUR 64,14
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Verlag: Apple Academic Press Inc., 2015
ISBN 10: 1482208385 ISBN 13: 9781482208382
Sprache: Englisch
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 137,59
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Verlag: Apple Academic Press Inc., 2015
ISBN 10: 1482208385 ISBN 13: 9781482208382
Sprache: Englisch
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 135,28
Währung umrechnenEUR 5,78 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 77,08
Währung umrechnenEUR 62,04 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Managing technical programs successfully is as much art as it is science. This book illuminates the entire life cycle of the program-from customer's original concept to successful completion. It offers an overview of the entire process and includes helpful ideas and insights into why programs and program managers can fail. Much more importantly,
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 150,65
Währung umrechnenEUR 7,49 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 224.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,64
Währung umrechnenEUR 14,40 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 224 pages. 9.53x6.42x0.83 inches. In Stock.
-
EUR 136,09
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New.
-
Program Management in Defense and High Tech Environments
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 175,16
Währung umrechnenEUR 62,04 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - Managing technical programs successfully is as much art as it is science. This book illuminates the entire life cycle of the program-from customer's original concept to successful completion. It offers an overview of the entire process and includes helpful ideas and insights into why programs and program managers can fail. Much more importantly, it provides insights as to how program managers can succeed. The book also deals directly with identifying scope creep-both internal and external.
