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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Synchrotron-basierte in situ Analyse wellenlängenabhängiger Prozessphänomene beim Laserstrahlschweißen von Kupfer | Marc Daniel Hummel | Taschenbuch | Deutsch | 2025 | Apprimus Verlag | EAN 9783985552696 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
