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Test Resource Partitioning for System-on-a-chip
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2002
ISBN 10: 1402071191 ISBN 13: 9781402071195
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 187,23
Währung umrechnenEUR 8,94 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Talks about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. This book aims to position test resource partitioning in the context of SOC test automation. It presents various techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 244 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 1170. . 2002. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
