Gesamtpreis (1 Artikel Artikel):
Versandziel:
khosla rajinder (4 Ergebnisse)
Direkt zu den wichtigsten Suchergebnissen
Suchfilter
Produktart
- Alle Product Types
- Bücher (4)
- Magazine & Zeitschriften (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Comics (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Noten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Kunst, Grafik & Poster (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Fotografien (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Karten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Manuskripte & Papierantiquitäten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Zustand Mehr dazu
- Neu (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie Neu, Sehr Gut oder Gut Bis Sehr Gut (2)
- Gut oder Befriedigend (2)
- Ausreichend oder Schlecht (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie beschrieben (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Einband
- alle Einbände
- Hardcover (4)
- Softcover (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Weitere Eigenschaften
- Erstausgabe (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Signiert (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Schutzumschlag (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Angebotsfoto (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Sprache (1)
Preis
- Beliebiger Preis
- Weniger als EUR 20 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- EUR 20 bis EUR 45 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Mehr als EUR 45
Gratisversand
Land des Verkäufers
Verkäuferbewertung
-
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for . / Materials Physics and Applications)
Sprache: Englisch
Verlag: American Institute of Physics (edition 2007), 2007
ISBN 10: 0735404410 ISBN 13: 9780735404410
Hardcover. Zustand: Very Good. 2007. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
-
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 398 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
-
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 578 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
-
Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003: 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology (AIP Conference Proceedings, 683)
Sprache: Englisch
Verlag: American Institute of Physics, 2003
ISBN 10: 0735401527 ISBN 13: 9780735401525
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 441,63
EUR 12,33 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
