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Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, Feb. 2 (weekend SALE item)* 265 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Particle Characterization in Technology, Vol. 2: Morphological Analysis
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 5,83
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In den WarenkorbZustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Hardcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Couverture différente. Edition 1984. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Different cover. Edition 1984. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Particle Characterization in Technology: Vol. 1: Applications and Microanalysis (CRC series on fine particle science and technology)
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, Feb. 2 (weekend SALE item)* volume one, 246 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Particle Characterization in Technology, Vol. 1: Applications and Microanalysis
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 35,89
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In den WarenkorbZustand: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Image Analysis Sourcebook
Sprache: Englisch
Verlag: American Universities Sicence and Technology Press, Santa Barbara, California, U.S.A., 1997
ISBN 10: 096175317X ISBN 13: 9780961753177
Hard Cover. Zustand: Good. No Jacket. The interior is clean and tight. Binding is good. Cover is good. 390 pages including index.
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![Bild des Verkäufers für Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ]. zum Verkauf von Emile Kerssemakers ILAB](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31955007203.jpg)
Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ].
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, Inc., Boca Raton, Florida, 1985
ISBN 10: 0849357845 ISBN 13: 9780849357848
Anbieter: Emile Kerssemakers ILAB, Heerlen, Niederlande
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
2 vols. Original hardcovers. xviii,246 pp. & xviii,266 pp.; ills.; 26x18 cm. " Uniscience Series on Fine Particle Science and Technology " Text in English. - (trace of removed label on spines, stamp on endpapers, small signs of use) Although (very) good, see picture 1820g.
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Advanced Particulate Morphology (Fine Particle Science and Technology)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 213,34
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In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 199,09
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. John Keith BeddowThis volume, based on the 1977 NSF Residential Advanced Particle Morphology Workshop, covers the principle developments in this new and rapidly evolving field. The divergent fields of interst of the authors reflect the prosepcts for the.
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Particle Characterization in Technology: Volume I: Application and Microanalysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 250,69
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In den WarenkorbZustand: New.
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Advanced Particulate Morphology
Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd Nov 2017, 2017
ISBN 10: 1315890445 ISBN 13: 9781315890449
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware.
