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ACCURATE LINEWIDTH MEASUREMENTS ON INTEGRATED-CIRCUIT PHOTOMASKS
Erscheinungsdatum: 1980
Anbieter: Xerxes Fine and Rare Books and Documents, Glen Head, NY, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: near Fine. Washington 1980. National Bureau of Standards Special Publication 400-43. Semiconductor measurement technology. 4to., 154pp., photo illustrations, wraps. Depository Library stamp on front and title page. o/w near Fine.
