Hosaka sumio (7 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Berlin, Springer., 2004

      3540005277 / 9783540005278

      • Hardcover

      Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, DeutschlandUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH

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      338 figs., XX, 476 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. NanoScience and Technology. Sprache: Englisch.

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2004

      3540005277 / 9783540005278

      • Hardcover

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      Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 500 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span to

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Intechopen, 2013

      9535111752 / 9789535111757

      • Hardcover

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2004

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      • Hardcover

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      Sprache: Englisch

      Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2010

      3642056024 / 9783642056024

      • Softcover

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Applied Scanning Probe Methods I | Bharat Bhushan (u. a.) | Taschenbuch | NanoScience and Technology | Englisch | 2010 | Springer Berlin Heidelberg | EAN 9783642056024 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | An

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      Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2010

      3642056024 / 9783642056024

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in appliednear-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and d

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      Sprache: Englisch

      Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2004

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      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in appliednear-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamica