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Progress in Materials Analysis: Vol. 2 (Mikrochimica Acta Supplementa, 11)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 60,72
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Nature, Aim and Methods of Microchemistry: Proceedings of the 8th International Microchemical Symposium Organized by the Austrian Society for ... Chemistry, Graz, Austria, August 25-30, 1980
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie.
Sprache: Deutsch
Verlag: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer, 1986
ISBN 10: 3540150501 ISBN 13: 9783540150503
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. VIII, 300 S. : 154 Ill. u. graph. Darst. ; 25 cm Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 680.
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Progress in Materials Analysis: Vol. 1 (Mikrochimica Acta Supplementa)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,77
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. illustrated edition. 364 pages. 9.00x6.00x0.82 inches. In Stock.
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Progress in Materials Analysis: Vol 2
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 81,23
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 396 pages. 9.02x5.98x0.93 inches. In Stock.
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Nature, Aim and Methods of Microchemistry: Proceedings of the 8th International Microchemical Symposium Organized by the Austrian Society for Microchemistry and Analytical Chemistry, Graz, Aust
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 81,65
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 352 pages. 9.61x6.69x0.80 inches. In Stock.
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Progress in Materials Analysis: Vol. 1 (Mikrochimica Acta Supplementa, 10)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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EUR 64,08
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Progress in Materials Analysis : Vol. 1
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Vienna, Springer Vienna, 1983
ISBN 10: 321181759X ISBN 13: 9783211817599
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 11th Colloquium on Metallurgical Analysis - a joint venture of the Institute of Analytical Chemistry of the Technical University in Vienna, the Austrian Society for Analytical Chemistry and Microchemistry, the German Metals Society (DGM), and the Society of German Iron and Steel Engineers (VDEh) - was attended by 120 scientists from 12 nations. The major topics covered were surface, micro and trace analysis of materials with a heavy emphasis on metals. According to the strategy of the meeting attention was focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining analytical chemistry, solid state physics and tech nology. Therefore progress reports on analytical techniques (like SIMS, SNMS, Positron Annihilation Spectroscopy, AES, XPS) were given as well as pre sentations on the development of materials (like for the fusion reactor). The majority of the discussion papers centered on the treatment of important technical problems in materials science and technology by a (mostly sophis ticated) combination of physical and chemical analytical techniques. The intensive exchange of ideas and results between the scientists oriented towards basic research and the industrial materials technologists was very fruitful and resulted in the establishment of several scientific cooperations. Major trends in materials analysis were also dealt with in a plenary discussion of which a short summary is contained in this volume. In order to facilitate international communication in the field of materials analysis and in view of the important questions treated in the various contri butions this proceedings volume was edited in English.
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Nature, Aim and Methods of Microchemistry : Proceedings of the 8th International Microchemical Symposium Organized by the Austrian Society for Microchemistry and Analytical Chemistry, Graz, Austria, August 25-30, 1980
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - th This proceedings volume of the 8 International Microchemical Symposium contains the plenary and keynote lectures delivered at the conference. Besides basic and historic aspects the following major topics are covered: 'Microchemistry Arts and Archeology' in 'Microchemistry in Life Sciences' 'Microchemistry Sciences' in Environmental 'Microchemistry in Material Sciences' 'Instrumentation, Methods and Automation in Microchemistry'. The papers show the present state of microchemistry and the development of this field since the pioneer days of Fritz Pregl and Friedrich Emich. Today microchemistry is a different science as compared to the Pregl and Emich days, for it combines many disciplines like chemistry, physics, mathematics, informatics, biology and does not only mean microanalysi- even if it is still predominant and the best tool for elucidation of the microcosmos. Due to this development modern microchemistry plays an important role in science and technology. It had been the intention of the Scientific th Executive Committee to demonstrate this at the 8 International Micro chemical Symposium with the goal to encourage interdisciplinary communication and stimulate discussion.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Nature, Aim and Methods of Microchemistry | Proceedings of the 8th International Microchemical Symposium Organized by the Austrian Society for Microchemistry and Analytical Chemistry, Graz, Austria, August 25-30, 1980 | H. Malissa (u. a.) | Taschenbuch | viii | Englisch | 1981 | Springer | EAN 9783211816530 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Progress in Materials Analysis | Vol. 1 | M. K. Zacherl (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 1983 | Springer Vienna | EAN 9783211817599 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Progress in Materials Analysis : Vol. 2
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Wien, Springer Vienna, Springer, Berlin, 1985
ISBN 10: 3211819053 ISBN 13: 9783211819050
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Vol. 2 of 'Progress in Materials Analysis' contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top level international participation from industry and research insti tutions the proceedings offer a survey of the present state and current trends in materials analysis of high actuality. The major topics covered are surface, micro and trace analysis of materials with a special emphasis on metals but also including other materials like ceramics, semiconductors, polymers. According to the strategy of the meeting attention is focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining analytical chemistry, solid state physics and technol ogy. Therefore progress reports on modern analytical technique like SIMS, SNMS, AES, XPS, Positron Annihilation Spectroscopy, EPMA, STEM, LAMMS, etc. are contained as well as presentations on the development of materials. The majority of the contributions centers on the treatment of important problems in materials science and technology by a (mostly sophisticated) combination of physical and chemical analytical techniques. Vienna, July 1985 M. Grasserbauer Contents Page Hercules, D. M. Surface Characterization of Thin Organic Films on Metals . .
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 980 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).
Anbieter: Gebrauchtbücherlogistik H.J. Lauterbach, Gummersbach, NRW, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Gut. 25cm; VIII.; 300; Hardcover. Zustand: Sehr Gut, eher ungelesen (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat min. bis geringe Gebrauchsspuren; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. 300 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Bib.-Signatur und Stempel in GUTEM Zustand. Kaum Gebrauchsspuren. 3055000595 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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Erarbeitung mikroanalytischer Charakterisierungs-Kriterien für Schäden der Bausubstanz im Wohnbaubereich als Folge von Mikrophasenumwandlungen
Sprache: Deutsch
Anbieter: Antiqua U. Braun, Detmold, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Lwdbd. Zustand: Zustand in der Beschreibung. 185 S. mit zahlreichen Abb. sowie ein Anhang ("Publikationsliste") Einbandecken und 2 Stellen am unteren Rand leicht gestaucht. Ca. 30 Seiten mit schwachen Markierungen bzw. kleinen Aufklebern. Ansonsten gutes Ex.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German Edition)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,08
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS.
Verlag: Akademie - Verlag. Berlin. 1986., 1986
ISBN 10: 3055000595 ISBN 13: 9783055000591
Anbieter: Antiquariat am Flughafen, Berlin, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: sehr gut. 3. Aufl. Originalpappband, 300 Seiten, 24,5 cm x 17,5 cm, mit 152 Abbildungen und 29 Tafeln, leicht angestaubt, Ecken und Kanten sowie Einband insgesamt leicht berieben und leicht gestaucht, so sehr gutes Exemplar in deutscher Sprache.
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Angewandte Oberfl Chenanalyse Mit Sims Sekund R-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS R Ntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Sprache: Deutsch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642701787 ISBN 13: 9783642701788
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,11
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 312 pages. German language. 9.60x6.80x0.80 inches. In Stock.
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Angewandte Oberflaechenanalyse mit SIMS Sekundaer-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Roentgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Sprache: Deutsch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642701787 ISBN 13: 9783642701788
EUR 74,99
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Maria Lanzendorf feiert 300 Jahre Kalvarienberg 1699-1999. Rezept-Sammlung der Intitiative "Rettet den Kalvarienberg.
Sprache: Deutsch
Verlag: Pfarramt Maria Lanzendorf k.A.
Anbieter: Antiquarische Fundgrube e.U., Wien, Österreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Ringbuch. 273 S. Einband gering vergilbt u. etw. berieben G1045 *.* Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 580.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Sprache: Deutsch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2011
ISBN 10: 3642701787 ISBN 13: 9783642701788
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflächenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Maße für die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und häufig mit einander kombiniert werden, nämlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfaßt, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter schiedlichen Spezialkenntnissen zurück. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver mittlung von theoretischem und experimentellem Wissen auf entsprechendem Niveau für die jeweiligen methodischen Teilgebiete. Anderseits ergeben sich dadurch gewisse Unterschiede in der Darstellungsweise und Symbolik zwischen den drei Kapiteln. Dies ist aber sicherlich von untergeordneter Bedeutung im Vergleich zu der durch Experten zu vermittelnden inhaltlichen Substanz. Die einzelnen Kapitel behandeln SIMS, AES und XPS hinsichtlich methodischem Prinzip, physikalischen Grundlagen, Gerätetechnik, amilytischem Informationsgehalt, qualitativer und quantitativer Analyse und praktischem Einsatz für aktuelle Frage stellungen der Oberflächenanalyse von Festkörpern - insbesondere aus dem Bereich der Werkstoffentwicklung. Die in den einzelnen Kapiteln angeführten Ergebnisse wurden im übrigen mit Hochleistungsgeräten der neuesten Generation erhalten, so daß der derzeitig aktuelle Leistungsstand der- Methodik dargestellt wird. Der Leser soll damit nicht nur eine Methode im Detail kennenlernen können, sondern auch durch die Anführung zahlreicher für das experimentelle Arbeiten wichtiger Daten einen Einstieg in den praktischen Einsatz der Methoden erhalten.
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Angewandte Oberfl?chenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 140,22
EUR 5,83 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Angewandte Oberfl?chenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 312 | Sprache: Deutsch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Angewandte Oberfl?chenanalyse mit SIMS, AES und XPS (German Edition)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 174,19
EUR 7,54 Versand
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Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, Aes Und Xps
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 173,81
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. reprint edition. 312 pages. German language. 6.69x0.75x9.61 inches. In Stock.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Keine ausführliche Beschreibung für 'Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS' verfügbar.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie Grasserbauer, M.; Dudek, H.J.; Ebel, Maria F.
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: gut. 1986. Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie In deutscher Sprache. pages.
