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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices (NATO Science Partnership Subseries: 3, 47)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,14
Währung umrechnenEUR 13,71 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices (NATO Science Partnership Subseries: 3, 47)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 168,73
Währung umrechnenEUR 63,90 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-based Devices
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 1998
ISBN 10: 0792350073 ISBN 13: 9780792350071
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 168,73
Währung umrechnenEUR 64,73 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - An extrapolation of ULSI scaling trends indicates that minimum feature sizes below 0.1 mu and gate thicknesses of Audience: Both expert scientists and engineers who wish to keep up with cutting edge research, and new students who wish to learn more about the exciting basic research issues relevant to next-generation device technology.
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on SI-Based Devices
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792350073 ISBN 13: 9780792350071
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 249,69
Währung umrechnenEUR 9,03 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices: Towards an Atomic Scale Understanding, St. Petersburg, Russia, August 4-8, 1997 Editor(s): Garfunkel, Eric; Gusev, Evgeni; Vul', Alexander Ya. Series: NATO Science Partnership Subseries: 3. Num Pages: 507 pages, 114 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 170 x 28. Weight in Grams: 962. . 1998. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on SI-Based Devices
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792350081 ISBN 13: 9780792350088
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 253,95
Währung umrechnenEUR 9,03 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Fundamental Aspects of Ultrathin Dielectrics on Si-Based Devices: Towards an Atomic Scale Understanding, St. Petersburg, Russia, August 4-8, 1997 Editor(s): Garfunkel, Eric; Gusev, Evgeni; Vul', Alexander Ya. Series: NATO Science Partnership Subseries: 3. Num Pages: 507 pages, 114 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 160 x 26. Weight in Grams: 1590. . 1998. Softcover reprint of the original 1st ed. 1998. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
