dayadi lakshmaiah (14 Ergebnisse)

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Over the past decade, low power, energy efficient Very Large Scale Integration design has been the focal point for active research and development. The rapid technology scaling, growing integration capacity and leakage power dissipation are the contributing factors for increas in the complexity of modern VLSI design. Voltage scaling is one of the most efficient ways for reducing power and energy in VLSI circuitry. Due to the reduced threshold voltage, switching speed becomes faster, active leakage current is increased. A technique to dynamically manage active leakage current, which reduces the energy dissipation in VLSI circuitry at different circuits with different levels of complexity is required. As technology scale into the deep sub micron technology regime, sub threshold leakage power increases exponentially with the reduction of the threshold voltage. Therefore effective leakage and dynamic power minimization techniques become necessary. Ground, power and hybrid gated techniques are proposed as effective circuit level techniques that get better performance, low leakage and low dynamic power. The design and performance evaluation of 1-bi.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 236 pp. Englisch.

Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -En el último decenio, el diseño de integración a muy gran escala de baja potencia y eficiencia energética ha sido el centro de atención de la investigación y el desarrollo activos. La rápida ampliación de la tecnología, la creciente capacidad de integración y la disipación de la energía de fuga son los factores que contribuyen a aumentar la complejidad del diseño moderno de la VLSI. El escalamiento de la tensión es una de las formas más eficientes de reducir la potencia y la energía en los circuitos VLSI. Debido a la reducción del voltaje umbral, la velocidad de conmutación se hace más rápida, la corriente de fuga activa se incrementa. Se requiere una técnica para manejar dinámicamente la corriente de fuga activa, que reduce la disipación de energía en los circuitos VLSI en diferentes circuitos con diferentes niveles de complejidad. A medida que la tecnología se escala en el régimen de la tecnología submicrónica profunda, la potencia de fuga subumbral aumenta exponencialmente con la reducción del voltaje umbral. Por lo tanto, se hacen necesarias técnicas de fuga efectivas y de minimización dinámica de la potencia.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 200 pp. Spanisch.

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Au cours de la dernière décennie, la conception de l'intégration à très grande échelle à faible consommation d'énergie et à haut rendement énergétique a été au centre d'une recherche et d'un développement actifs. L'évolution rapide de la technologie, la capacité d'intégration croissante et la dissipation de la puissance de fuite sont les facteurs qui contribuent à l'augmentation de la complexité de la conception VLSI moderne. La mise à l'échelle de la tension est l'un des moyens les plus efficaces pour réduire la puissance et l'énergie dans les circuits VLSI. En raison de la réduction de la tension de seuil, la vitesse de commutation devient plus rapide, le courant de fuite actif est augmenté. Une technique de gestion dynamique du courant de fuite actif, qui réduit la dissipation d'énergie dans les circuits VLSI sur différents circuits de différents niveaux de complexité, est nécessaire. Au fur et à mesure que la technologie évolue vers le régime de la technologie submicronique profonde, la puissance de fuite sous le seuil augmente de manière exponentielle avec la réduction de la tension de seuil. Par conséquent, des techniques efficaces de minimisation des fuites et de la puissance dynamique deviennent nécessaires.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 200 pp. Französisch.

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -In het afgelopen decennium is het energiezuinige ontwerp van Very Large Scale Integration het centrale punt geweest voor actief onderzoek en ontwikkeling. De snelle technologische schaalvergroting, de groeiende integratiecapaciteit en het lekkende vermogen zijn de factoren die bijdragen aan de toename van de complexiteit van het moderne VLSI-ontwerp. Spanningsschaling is een van de meest efficiënte manieren om het vermogen en de energie in VLSI-circuits te verminderen. Door de verlaagde drempelspanning wordt de schakelsnelheid sneller, de actieve lekstroom wordt verhoogd. Een techniek om de actieve lekstroom dynamisch te beheren, die de energiedissipatie in VLSI-schakelingen op verschillende circuits met verschillende niveaus van complexiteit vermindert, is vereist. Aangezien de technologie schaalbaar is in het diepe sub micron technologie regime, neemt het sub drempel lekvermogen exponentieel toe met de vermindering van de drempelspanning. Daarom worden effectieve lek- en dynamische vermogensminimalisatietechnieken noodzakelijk.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 200 pp. Niederländisch.

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Ao longo da última década, o projeto de integração em escala muito grande, de baixa potência e eficiência energética, tem sido o ponto focal para a pesquisa e desenvolvimento ativo. A rápida escala da tecnologia, a crescente capacidade de integração e a dissipação de energia vazada são os fatores que contribuem para o aumento da complexidade do design moderno das LSV. A escala de tensão é uma das formas mais eficientes para reduzir a energia e a potência nos circuitos VLSI. Devido à tensão limite reduzida, a velocidade de comutação torna-se mais rápida, a corrente de fuga activa é aumentada. Uma técnica para gerenciar dinamicamente a corrente de fuga ativa, que reduz a dissipação de energia nos circuitos VLSI em diferentes circuitos com diferentes níveis de complexidade, é necessária. À medida que a tecnologia se adapta ao regime de tecnologia sub-micron profunda, a potência de fuga sub-limiar aumenta exponencialmente com a redução da tensão limite. Portanto, técnicas eficazes de minimização de vazamento e de potência dinâmica se tornam necessárias.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 196 pp. Portugiesisch.

Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -In den letzten zehn Jahren stand das energiesparende, energieeffiziente Very Large Scale Integration Design im Mittelpunkt der aktiven Forschung und Entwicklung. Die schnelle Skalierung der Technologie, die wachsende Integrationskapazität und die Verlustleistung sind die Faktoren, die dazu beitragen, dass die Komplexität des modernen VLSI-Designs zunimmt. Spannungsskalierung ist eine der effizientesten Methoden zur Reduzierung von Leistung und Energie in VLSI-Schaltkreisen. Aufgrund der reduzierten Schwellenspannung wird die Schaltgeschwindigkeit schneller, der aktive Leckstrom wird erhöht. Es ist eine Technik zur dynamischen Verwaltung des aktiven Leckstroms erforderlich, die die Energiedissipation in VLSI-Schaltungen bei verschiedenen Schaltungen mit unterschiedlichem Komplexitätsgrad reduziert. Wenn die Technologie in den tiefen Submikrometerbereich skaliert, steigt die Subschwellen-Leckleistung exponentiell mit der Reduzierung der Schwellenspannung. Daher werden effektive Techniken zur Leckage- und dynamischen Leistungsminimierung notwendig.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 204 pp. Deutsch.

Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Nell'ultimo decennio, il design a bassa potenza e ad alta efficienza energetica della Very Large Scale Integration è stato il punto focale per la ricerca e lo sviluppo attivo. La rapida scalabilità della tecnologia, la crescente capacità di integrazione e la dissipazione della potenza di dispersione sono i fattori che contribuiscono all'aumento della complessità della moderna progettazione VLSI. La scalatura della tensione è uno dei modi più efficienti per ridurre la potenza e l'energia nei circuiti VLSI. Grazie alla ridotta tensione di soglia, la velocità di commutazione diventa più veloce, la corrente di dispersione attiva viene aumentata. È necessaria una tecnica per gestire dinamicamente la corrente di dispersione attiva, che riduce la dissipazione di energia nei circuiti VLSI a diversi circuiti con diversi livelli di complessità. Man mano che la tecnologia entra in scala nel regime di tecnologia deep sub micron, la potenza di dispersione sub soglia aumenta in modo esponenziale con la riduzione della tensione di soglia. Di conseguenza, diventano necessarie tecniche efficaci di minimizzazione delle perdite e della potenza dinamica.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 196 pp. Italienisch.

Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -W ci¿gu ostatniej dekady, w centrum aktywnych badä i rozwoju znajdowäy si¿ projekty o mäej mocy, energooszcz¿dne, o bardzo du¿ej skali integracji. Szybka skalowalno¿¿ technologii, rosn¿ca zdolno¿¿ do integracji i rozpraszanie pr¿du up¿ywowego to czynniki przyczyniaj¿ce si¿ do zwi¿kszenia z¿o¿ono¿ci nowoczesnej konstrukcji VLSI. Skalowanie napi¿cia jest jednym z najbardziej efektywnych sposobów redukcji mocy i energii w obwodach VLSI. Ze wzgl¿du na zmniejszone napi¿cie progowe, szybko¿¿ prze¿¿czania staje si¿ szybsza, zwi¿ksza si¿ pr¿d up¿ywu aktywnego. Wymagana jest technika dynamicznego zarz¿dzania aktywnym pr¿dem up¿ywowym, która zmniejsza rozpraszanie energii w obwodach VLSI w ró¿nych obwodach o ró¿nych poziomach z¿o¿ono¿ci. Wraz ze skalowaniem technologii do g¿¿bokiego re¿imu technologii submikronowej, moc up¿ywu subprogowego wzrasta wyk¿adniczo wraz z redukcj¿ napi¿cia progowego. W zwi¿zku z tym konieczne staj¿ si¿ skuteczne techniki minimalizacji wycieków i dynamicznej mocy.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 196 pp. Polnisch.