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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Verlag: Springer, 2007
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 28,40
Währung umrechnenEUR 1,50 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,23
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,54
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 88,71
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 92,69
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 91,26
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Sprache: Englisch
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,90
Währung umrechnenEUR 6,95 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 128,33
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