Bowen tanner brian (6 Ergebnisse)
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X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
D. Keith Bowen (Bede Plc, Durham, UK)|Brian K. Tanner (University of Durham, UK)
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Zustand: New. D. Keith Bowen, Brian K. TannerThe scales involved in modern semiconductor manufacturing and microelectronics continue to plunge downward. Effective and accurate characterization of materials with thicknesses below a few nanometers can be achieved us.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 252 pages. 10.25x7.00x0.75 inches. In Stock.
