Binev peter (10 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
Serie: Nanostructure Science and Technology, Buch 25 von 60. Buch 25 von 60 - Nanostructure Science and Technology
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2014
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, 2014
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- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, 2012
Serie: Nanostructure Science and Technology, Buch 25 von 60. Buch 25 von 60 - Nanostructure Science and Technology
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Zustand: New.
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Vogt, Thomas (Editor)/ Dahmen, Wolfgang (Editor)/ Binev, Peter (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2014
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Paperback. Zustand: Brand New. 191 pages. 9.25x6.10x0.46 inches. In Stock.
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Vogt, Thomas (Editor)/ Dahmen, Wolfgang (Editor)/ Binev, Peter G. (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2012
Serie: Nanostructure Science and Technology, Buch 25 von 60. Buch 25 von 60 - Nanostructure Science and Technology
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 2012 edition. 280 pages. 9.25x6.00x0.50 inches. In Stock.
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Verlag: Springer, 2014
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- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy | Thomas Vogt (u. a.) | Taschenbuch | Nanostructure Science and Technology | ix | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489997289 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]spri…nger[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2012
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- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale im…aging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. ; Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer, 2014
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- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanos…cale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, 2012
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- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanos…cale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
