Bagchi saurabh (8 Ergebnisse)

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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2023
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Verlag: Springer, 2023
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Softcover
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Taschenbuch. Zustand: Neu. System Dependability and Analytics | Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives | Long Wang (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Reliability Engineering | xi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783031020650 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…

System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2023
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Softcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Hardcover. Zustand: Brand New. 444 pages. 9.25x6.10x1.00 inches. In Stock.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 79 von 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2023
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions. The book presents the results of research and descriptions of real-world systems, services, and technologies. Reading this book, researchers, professional practitioners, and graduate students will gain a clear vision on the state of the art of the research and real-world practice on system dependability and analytics.The book is published in honor of Professor Ravishankar K. Iyer, the George and Ann Fisher Distinguished Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at the University of Illinois at Urbana-Champaign (UIUC), Urbana, Illinois. Professor Iyer is ACM Fellow, IEEE Fellow, AAAS Fellow, and served as Interim Vice Chancellor of UIUC for research during 2008-2011. The book contains chapters written by many of his former students.…