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Fault-Tolerant Systems
Verlag: Morgan Kaufmann (edition 1), 2007
ISBN 10: 0120885255 ISBN 13: 9780120885251
Sprache: Englisch
EUR 20,67
Währung umrechnenEUR 7,02 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. 1. Ship within 24hrs. Satisfaction 100% guaranteed. APO/FPO addresses supported.
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Friedrich Weinrebs Deutung der zwei Schöpfungsgeschichten im Buch Genesis Isreal Koren. Aus dem Engl. von Konrad Dietzfelbinger
Verlag: Verlag Der Friedrich-Weinreb-Stiftung, 2001
ISBN 10: 388411056X ISBN 13: 9783884110560
Sprache: Deutsch
Anbieter: Antiquariat Mäander Quell, Waldshut-Tiengen, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 26,30
Währung umrechnenEUR 3,85 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbturtleback. Zustand: Sehr gut. 58 S. Gebrauchtes Exemplar in sehr gutem Zustand. KEINE Eintragungen/Markierungen. - Wir versenden aus unserem deutschen Lager heraus in plastikfreien oder wiederverwendeten Polstertaschen. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 118.
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography : Third International Workshop, FDTC 2006, Yokohama, Japan, October 10, 2006, Proceedings
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2006
ISBN 10: 3540462503 ISBN 13: 9783540462507
Sprache: Englisch
EUR 41,68
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend - Gepflegter, sauberer Zustand. | Seiten: 276 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography : Third International Workshop, FDTC 2006, Yokohama, Japan, October 10, 2006, Proceedings
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2006
ISBN 10: 3540462503 ISBN 13: 9783540462507
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 53,49
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In recent years applied cryptography has developed considerably to satisfy the - creasing security requirements of various information technology disciplines, such as telecommunications, networking, database systems, mobile applications and others. Cryptosystems are inherently computationally complex and in order to satisfy the high throughput requirements of many applications, they are often implemented by means of either VLSI devices (cryptographic accelerators) or highly optimized software routines (cryptographic libraries) and are used via suitable (network) protocols. The sophistication of the underlying cryptographic algorithms, the high complexity of the implementations, and the easy access and low cost of cryptographic devices resulted in increased concerns regarding the reliability and security of crypto-devices. The effectiveness of side channel attacks on cryptographic devices, like timing and power-based attacks, has been known for some time. Several recent investigations have demonstrated the need to develop methodologies and techniques for designing robust cryptographic systems (both hardware and software) to protect them against both accidental faults and maliciously injected faults with the purpose of extracting the secret key. This trend has been particularly motivated by the fact that the equipment needed to carry out a successful side channel attack based on fault injection is easily accessible at a relatively low cost (for example, laser beam technology), and that the skills needed to use it are quite common. The identification of side channel attacks based on fault injections and the development of appropriate counter-measures have therefore become an active field of scientific and industrial research.
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EUR 54,66
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2006
ISBN 10: 3540462503 ISBN 13: 9783540462507
Sprache: Englisch
EUR 64,08
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. This book constitutes the refereed proceedings of the Third International Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, FDTC 2006, held in Yokohama, Japan in October 2006.The 12 revised papers of FDTC 2006 are presented together with .
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Computer Arithmetic Algorithms
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 56,49
Währung umrechnenEUR 9,76 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 1.48.
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography: Third International Workshop, FDTC 2006, Yokohama, Japan, October 10, 2006, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science, 4236)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 62,34
Währung umrechnenEUR 5,93 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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EUR 88,64
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In den WarenkorbZustand: New. Über den AutorIsrael Koren is Professor Emeritus of Electrical and Computer Engineering at the University of Massachusetts, Amherst. Previously,he held positions with the Technion---Israel Institute of Technology, Haifa, the Uni.
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Fault-tolerant Systems
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 95,58
Währung umrechnenEUR 11,91 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 402 pages. 9.00x7.50x1.00 inches. In Stock.
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Fault-Tolerant Systems
Verlag: Elsevier Science Sep 2020, 2020
ISBN 10: 0128181052 ISBN 13: 9780128181058
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 108,53
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - Delivers the first book on fault tolerance design with a systems approach Offers comprehensive coverage of both hardware and software fault tolerance, as well as information and time redundancy Features fully updated content plus new chapters on failure mechanisms and fault-tolerance in cyber-physical systems Provides a complete ancillary package, including an on-line solutions manual for instructors and PowerPoint slides.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 1
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,36
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains an edited selection of papers presented at the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems held October 6-7, 1988 in Springfield, Massachusetts. Our thanks go to all the contributors and especially the members of the program committee for the difficult and time-consuming work involved in selecting the papers that were presented in the workshop and reviewing the papers included in this book. Thanks are also due to the IEEE Computer Society (in particular, the Technical Committee on Fault-Tolerant Computing and the Technical Committee on VLSI) and the University of Massachusetts at Amherst for sponsoring the workshop, and to the National Science Foundation for supporting (under grant number MIP-8803418) the keynote address and the distribution of this book to all workshop attendees. The objective of the workshop was to bring t. ogether researchers and practition ers from both industry and academia in the field of defect tolerance and yield en ha. ncement in VLSI to discuss their mutual interests in defect-tolerant architectures and models for integrated circuit defects, faults, and yield. Progress in this area was slowed down by the proprietary nature of yield-related data, and by the lack of appropriate forums for disseminating such information. The goal of this workshop was therefore to provide a forum for a dialogue and exchange of views. A follow-up workshop in October 1989, with C. H. Stapper from IBM and V. K. Jain from the University of South Florida as general co-chairmen, is being organized.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 119,77
Währung umrechnenEUR 5,93 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Fault-Tolerant Systems
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,79
Währung umrechnenEUR 11,91 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 398 pages. 9.25x7.50x0.90 inches. In Stock.
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Computer Arithmetic Algorithms, Second Edition
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 126,41
Währung umrechnenEUR 11,91 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 281 pages. 9.75x7.75x1.00 inches. In Stock.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,00
Währung umrechnenEUR 11,91 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 374 pages. 9.45x6.61x0.86 inches. In Stock.
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EUR 168,11
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
