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ED S : NICOLAIDIS, MICHAEL; ZORIAN, YERVANT; PRADHAN, DHIRAJ K (1 Ergebnisse)
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On-line Testing for VLSI
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792381327 ISBN 13: 9780792381327
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 187,04
Währung umrechnenEUR 9,01 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicolaidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
