Kurt hingerl (6 Ergebnisse)

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    Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2016

    3662519712 / 9783662519714

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    Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu

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    Taschenbuch. Zustand: Neu. Ellipsometry at the Nanoscale | Maria Losurdo (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783662519714 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2016

    3662519712 / 9783662519714

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    Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

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  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2013

    3642339557 / 9783642339554

    • Hardcover

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  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer Vieweg, 2016

    3662519712 / 9783662519714

    • Softcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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    Zustand: Neu

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    Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications.…

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer Gabler, 2013

    3642339557 / 9783642339554

    • Hardcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications.…

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    Verlag: Springer Verlag, 2013

    3642339557 / 9783642339554

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    Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books

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    Hardcover. Zustand: Brand New. 2013 edition. 754 pages. French language. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock.