Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis

Reimer, Ludwig

ISBN 10: 3662148250 ISBN 13: 9783662148259
Verlag: Springer, 2014
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Inhaltsangabe:

1. Introduction.- 2. Particle Optics of Electrons.- 3. Wave Optics of Electrons.- 4. Elements of a Transmission Electron Microscope.- 5. Electron-Specimen Interactions.- 6. Scattering and Phase Contrast for Amorphous Specimens.- 7. Theory of Electron Diffraction.- 8. Electron Diffraction Modes and Applications.- 9. Imaging of Crystalline Specimens and Their Defects.- 10. Elemental Analysis by X-Ray and Electron Energy-Loss Spectroscopy.- 11. Specimen Damage by Electron Irradiation.- References.

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Bibliografische Details

Titel: Transmission Electron Microscopy: Physics of...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2014
Einband: Softcover
Zustand: New

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Reimer, Ludwig:
Verlag: Springer, 1997
ISBN 10: 3540625682 ISBN 13: 9783540625681
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hardcover. Zustand: Befriedigend. 603 Seiten; 9783540625681.4 Gewicht in Gramm: 2. Artikel-Nr. 895386

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gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 521 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 900. Artikel-Nr. 1585194

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Verlag: Berlin, Springer 1997., 1997
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XVI, 545 S. Mit graph. Darst. u. Literaturverz. OKst., wie neu. "(= Springer series in optical sciences ; Vol. 36)". Artikel-Nr. TECH1328

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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 559 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Artikel-Nr. 42297686/202

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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 560 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Artikel-Nr. 42295726/202

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