Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Buch 92 von 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao (Author)/ Xu, Qiang (Author)

ISBN 10: 3319005324 ISBN 13: 9783319005324
Verlag: Springer, 2013
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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