Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2010

1441954309 / 9781441954305

Serie: Buch 38 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781441954305

Titel
Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
Autor
Said Hamdioui
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2010
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1441954309
ISBN-13
9781441954305
Artikelgewicht
376 Gramm
Abmessungen
235x155x14 mm
Serie
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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