System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)

Sprache: Englisch

Verlag: Morgan Kaufmann, 2007

012373973X / 9780123739735

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Titel
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
Autor
Wang, Laung-Terng
Verlag
Morgan Kaufmann
Erscheinungsjahr
2007
Zustand
New
Einband
hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
012373973X
ISBN-13
9780123739735

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