Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, September 8-11, 2020, Proceedings
Torsello, Andrea (Editor)/ Rossi, Luca (Editor)/ Pelillo, Marcello (Editor)/ Biggio, Battista (Editor)/ Robles-kelly, Antonio (Editor)
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