Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings

Robles-kelly, Antonio (Editor)/ Loog, Marco (Editor)/ Biggio, Battista (Editor)/ Escolano, Francisco (Editor)/ Wilson, Richard (Editor)

ISBN 10: 3319490540 ISBN 13: 9783319490540
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2016
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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