Simulation, Fabrication and Characterization of Advanced MOSFETs:: Graded-Channel and Multiple-Gate Devices in SOI Technology for Analog and RF Applications.

Sprache: Englisch

Verlag: VDM Verlag, 2009

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Titel
Simulation, Fabrication and Characterization of Advanced MOSFETs:: Graded-Channel and Multiple-Gate Devices in SOI Technology for Analog and RF Applications.
Autor
Chung, Tsung Ming
Verlag
VDM Verlag
Erscheinungsjahr
2009
Zustand
New
Einband
Softcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
363914600X
ISBN-13
9783639146004

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