Neuware -Scanning Tunneling Microscopy II, like its predecessorpresents detailed and comprehensive accounts of the basicprinciples and broad range of applications of STM andrelated scanning probe techniques. The applicationsdiscussed in this volume come predominantly from the fieldsof electrochemistry and biology. In contrast to thosedescribed in Vol. I, these sudies may be performed in airand in liquids. The extensions of the basic technique tomap other interactions are described inchapters on scanningforce microscopy, magnetic force microscopy, scanningnear-field optical microscopy, together with a survey ofother related techniques. Also described here is the use ofa scanning proximal probe for surface modification.Togehter, the two volumes give a comprehensive account ofexperimental aspcets of STM. They provide essentialreadingand reference material for all students and researchersinvolvedin this field. 324 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9783642973659

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Bibliografische Details

Titel: Scanning Tunneling Microscopy II
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Feb 2012
Ver�ffentlichungsdatum: 2012
Sprache: Englisch
ISBN-10: 3642973655
ISBN-13: 9783642973659
Bindung: Taschenbuch
Zustand: Neu

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Inhaltsangabe

Scanning tunneling microscopy is a fascinating imaging technique that can produce stunning pictures of both inanimate and biological materials. This book is the second of three volumes that together provide the first ever comprehensive introduction to, and review of, this important and rapidly expanding field.

Rese�a del editor

Scanning Tunneling Microscopy II, like its predecessor, presents detailed and comprehensive accounts of the basic principles and broad range of applications of STM and related scanning probe techniques. The applications discussed in this volume come predominantly from the fields of electrochemistry and biology. In contrast to those described in Vol. I, these sudies may be performed in air and in liquids. The extensions of the basic technique to map other interactions are described inchapters on scanning force microscopy, magnetic force microscopy, scanning near-field optical microscopy, together with a survey of other related techniques. Also described here is the use of a scanning proximal probe for surface modification. Togehter, the two volumes give a comprehensive account of experimental aspcets of STM. They provide essentialreading and reference material for all students and researchers involvedin this field.

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