Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, D.C. Joy

ISBN 10: 0306441756 ISBN 13: 9780306441752
Verlag: Kluwer Academic Publishers Group, 1992
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Sehr gut Hardcover

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