Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Lifshin, Eric, Echlin, Patrick, Goldstein, Joseph, Joy, David C., Lyman, Charles E.

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Verlag: Springer, 2003
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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