Risk Methodologies for Technological Legacies (Nato Science Series: IV: Earth and Environmental Sciences)

Bley, Dennis C. (Editor)/ Droppo, James G. (Editor)/ Eremenko, Vitaly A. (Editor)/ Lundgren, Regina (Editor)

ISBN 10: 1402012586 ISBN 13: 9781402012587
Verlag: Kluwer Academic Pub, 2003
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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