Reliability, Yield, and Stress Burn-In : A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing and Software Development

Kim, Taeho, Kuo, Way, Chien, Wei-Ting Kary

ISBN 10: 0792381076 ISBN 13: 9780792381075
Verlag: Springer, 1998
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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