Reliability Wearout Mechanisms

Sprache: Englisch

Verlag: John Wiley & Sons Sep 2009, 2009

0471731722 / 9780471731726

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the first book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780471731726

Titel
Reliability Wearout Mechanisms
Autor
La Rosa
Verlag
John Wiley & Sons Sep 2009
Veröffentlichungsjahr
2009
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0471731722
ISBN-13
9780471731726
Artikelgewicht
1.120 Gramm
Abmessungen
240x161x39 mm

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