Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2019

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Provides comprehensive textbook on reliability physics of semiconductors, from fundamentals to applications Explains the fundamentals of reliability physics and engineering tools for building better products Contains statistical training and tools within the text Includes new chapters on Physics of Degradation, and Resonance and Resonance-Induced Degradation. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 835.

Titel
Reliability Physics and Engineering Time-To-Failure Modeling
Autor
J. W. McPherson
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2019
Zustand
Neu
Einband
Gebundene Ausgabe
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319936824
ISBN-13
9783319936826
Auflage
3. Auflage
Artikelgewicht
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