Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms : Theory and Practice

Yen-Wei Chen

ISBN 10: 3031598105 ISBN 13: 9783031598104
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2024
Sprache: Englisch
Neu Zustand: Neu Hardcover

Verkäufer AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland

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