Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
David (Author)
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Verlag: Marcel Dekker Inc, 1998
Neu
Hardcover
Verkäufer
Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
AbeBooks-Verkäufer seit 6. Januar 2003
Dieser Artikel ist nicht mehr verfügbar.
Beschreibung
Beschreibung:
1st edition. 475 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. Bestandsnummer des Verkäufers __0824701828
Inhaltsangabe:
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
Über die Autorin bzw. den Autor: Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Bibliografische Details
Titel: Random Testing of Digital Circuits: Theory ...
Verlag: Marcel Dekker Inc
Erscheinungsdatum: 1998
Einband: Hardcover
Zustand: Brand New
Beste Suchergebnisse beim ZVAB
Beispielbild für diese ISBN
Random Testing Of Digital Circuits - Theory And Applications
Anbieter: UBUCUU S.R.L., Bucharest, Rumänien
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Good. Artikel-Nr. G-9780824701826-3
Gebraucht kaufen
EUR 24,75
EUR 60,74 shipping
Versand von Rumänien nach USA
Versand von Rumänien nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Verlag:
Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
Gebraucht
Hardcover
Erstausgabe
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. First Edition, First Printing. Hardcover and contents in almost new condition, showing minimal signs of wear. Previous owner's name on FEP. No dust jacket. T. Used. Artikel-Nr. 248605
Gebraucht kaufen
EUR 29,22
EUR 10,85 shipping
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Anbieter: Buchpark, Trebbin, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Artikel-Nr. 1244488/202
Gebraucht kaufen
EUR 30,17
EUR 105,00 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 2 verfügbar
Internationale Ausgabe
RANDOM TESTING OF DIGITAL CIRCUITS: THEORY AND APPLICATIONS
Internationale AusgabeAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Artikel-Nr. ABNR-213733
Foto des Verkäufers
David, R: Random Testing of Digital Circuits
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Gebunden. Zustand: New. Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France. Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practi. Artikel-Nr. 595073887
Neu kaufen
EUR 389,71
EUR 48,99 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Verlag:
Taylor & Francis Inc Apr 1998, 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
Neu
Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - 'Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. '. Artikel-Nr. 9780824701826
Neu kaufen
EUR 480,39
EUR 64,27 shipping
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 2 verfügbar