A Probabilistic Theory of Pattern Recognition (Stochastic Modelling and Applied Probability)

Devroye, Luc; Györfi, Laszlo; Lugosi, Gabor

ISBN 10: 146126877X ISBN 13: 9781461268772
Verlag: Springer, 2013
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Inhaltsangabe:

Pattern recognition presents a significant challege for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. This book provides a self-contained account of probabilistic techniques that have been applied to the subject. Researchers and graduate students will benefit from this wide-ranging account of the field.

Reseña del editor: A self-contained and coherent account of probabilistic techniques, covering: distance measures, kernel rules, nearest neighbour rules, Vapnik-Chervonenkis theory, parametric classification, and feature extraction. Each chapter concludes with problems and exercises to further the readers understanding. Both research workers and graduate students will benefit from this wide-ranging and up-to-date account of a fast- moving field.

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Bibliografische Details

Titel: A Probabilistic Theory of Pattern ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2013
Einband: Softcover
Zustand: New

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Luc Devroye (u. a.)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. A Probabilistic Theory of Pattern Recognition | Luc Devroye (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781461268772 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 105322850

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysis of these approaches. The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 660 pp. Englisch. Artikel-Nr. 9781461268772

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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Pattern recognition presents one of the most significant challenges for scientists and engineers, and many different approaches have been proposed. The aim of this book is to provide a self-contained account of probabilistic analysis of these approaches. The book includes a discussion of distance measures, nonparametric methods based on kernels or nearest neighbors, Vapnik-Chervonenkis theory, epsilon entropy, parametric classification, error estimation, free classifiers, and neural networks. Wherever possible, distribution-free properties and inequalities are derived. A substantial portion of the results or the analysis is new. Over 430 problems and exercises complement the material. Artikel-Nr. 9781461268772

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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 653 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-146126877X

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