Neuware - Principles of Electron Optics: Second Edition, Advanced Wave Optics provides a self-contained, modern account of electron optical phenomena with the Dirac or Schr�dinger equation as a starting point. Knowledge of this branch of the subject is essential to understanding electron propagation in electron microscopes, electron holography and coherence. Sections in this new release include, Electron Interactions in Thin Specimens, Digital Image Processing, Acquisition, Sampling and Coding, Enhancement, Linear Restoration, Nonlinear Restoration - the Phase Problem, Three-dimensional Reconstruction, Image Analysis, Instrument Control, Vortex Beams, The Quantum Electron Microscope, and much more.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9780323916462

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Bibliografische Details

Titel: Principles of Electron Optics, Volume 4 : Advanced Wave Optics
Verlag: Elsevier Science & Technology Mai 2022
Erscheinungsjahr: 2022
Sprache: Englisch
ISBN-10: 0323916465
ISBN-13: 9780323916462
Einband: Taschenbuch
Auflage: 2. Auflage
Zustand: Neu
Abmessungen: Breite: 234 mm, H�he: 188 mm, Tiefe: 37 mm
Gewicht: 1326 Gramm

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

Principles of Electron Optics: Second Edition, Advanced Wave Optics provides a self-contained, modern accounting of electron optical phenomena with the Dirac or Schr�dinger equation as a starting point. Knowledge of this branch of the subject is essential to understanding electron propagation in electron microscopes, electron holography and coherence. Sections in this new release include Principles of Electron Optics, Electron Interactions in Thin Specimens, Digital Image Processing, Acquisition, Sampling and Coding, Enhancement, Linear Restoration, Nonlinear Restoration - the Phase Problem, Three-dimensional Reconstruction, Image Analysis, Instrument Control, Instrumental Image Manipulation, and much more.

Includes authoritative coverage of many recent developments in wave electron optics
Describes the interaction of electrons with solids and the information that can be obtained from electron-beam techniques
Includes new content on multislice optics, 3D reconstruction, Wigner optics, vortex beams and the quantum electron microscope

�ber die Autorinnen und Autoren

Peter Hawkes obtained his M.A. and Ph.D (and later, Sc.D.) from the University of Cambridge, where he subsequently held Fellowships of Peterhouse and of Churchill College. From 1959 – 1975, he worked in the electron microscope section of the Cavendish Laboratory in Cambridge, after which he joined the CNRS Laboratory of Electron Optics in Toulouse, of which he was Director in 1987. He was Founder-President of the European Microscopy Society and is a Fellow of the Microscopy and Optical Societies of America. He is a member of the editorial boards of several microscopy journals and serial editor of Advances in Electron Optics.

Erwin Kasper studied physics at the Universities of M�nster and T�bingen (Germany), where he obtained his PhD in 1965 and the habilitation to teach physics in 1969. After scientific spells in the University of Tucson, Arizona (1966) and in Munich (1970), he resumed his research and teaching in the Institute of Applied Physics, University of T�bingen, where he was later appointed professor. He lectured on general physics and especially on electron optics. The subject of his research was theoretical electron optics and related numerical methods on which he published numerous papers. After his retirement in 1997, he published a book on numerical field calculation (2001).

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