Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions

Buch 77 von 233: Springer Series in Materials Science

Spaeth, Johann-Martin; Overhof, Harald

ISBN 10: 3642627226 ISBN 13: 9783642627224
Verlag: Springer, 2012
Sprache: Englisch
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