Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the Traps in Field-Effect Transistors

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Verlag, 2013

9400763913 / 9789400763913

Serie: Buch 33 von 151 - SpringerBriefs in Physics

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2013 edition. 101 pages. 9.00x6.25x0.25 inches. In Stock.

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Titel
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the Traps in Field-Effect Transistors
Autor
Im, Seongil/ Kim, Jae/ Chang, Youn-gyoung
Verlag
Springer Verlag
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Brand New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
9400763913
ISBN-13
9789400763913
Artikelgewicht
1,89 Kilogramm
Serie
Buch 33 von 151: SpringerBriefs in Physics

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