Pattern Recognition: 28th Dagm Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006: Proceedings

Franke, Katrin (Editor)/ Müller, Klaus-robert (Editor)/ Nickolay, Bertram (Editor)/ Schafer, Ralf (Editor)

ISBN 10: 3540444122 ISBN 13: 9783540444121
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2006
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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