Titel: Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Verlag: CRC Press
Erscheinungsjahr: 2017
Sprache: Englisch
ISBN-10: 1315896265
ISBN-13: 9781315896267
Einband: Hardcover
Zustand: New

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

�ber die Autorin bzw. den Autor

J.K. Beddow

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