Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 36)
Huertas Sánchez, Gloria Huertas; Vázquez García De La Vega, Diego; Rueda Rueda, Adoración; Huertas Díaz, Jose Luis
ISBN 10: 9048173361 ISBN 13: 9789048173365
Verlag: Springer, 2010
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Inhaltsangabe:
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test – OBT in short. The results here presented allow to assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.
Über die Autorin bzw. den Autor: Prof. José Luis Huertas is Director of the Instituto de Microelectronica de Sevilla in Spain. He has edited one book on Testing for Kluwer, that published in October 2004, and was series editor for the three book series from the European Mixed-Signal Initiative for Electronic System Design.
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Bibliografische Details
Titel: Oscillation-Based Test in Mixed-Signal ...
Verlag: Springer
Erscheinungsdatum: 2010
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits | Gloria Huertas Sánchez (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer Netherland | EAN 9789048173365 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 107244594
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The results here presented allow to assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits. Artikel-Nr. 9789048173365
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Oscillation-based Test in Mixed-signal Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
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