OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

Beyerer, Jurgen (Editor) / Leon, Fernando Puente (Series Editor) / Langle, Thomas (Series Editor)

ISBN 10: 3731503182 ISBN 13: 9783731503187
Verlag: KIT Scientific Publishing, 2015
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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