Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems (Quality and Reliability Engineering Series)

Sprache: Englisch

Verlag: Wiley, 2016

1118700236 / 9781118700235

Serie: Buch 8 von 19 - Quality and Reliability Engineering

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Titel
Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems (Quality and Reliability Engineering Series)
Autor
Gray, Kirk A.; Paschkewitz, John J.
Verlag
Wiley
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
1118700236
ISBN-13
9781118700235
Serie
Buch 8 von 19: Quality and Reliability Engineering

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