Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Verlag, 2010

3642064531 / 9783642064531

Serie: Buch 3 von 233 - Springer Series in Materials Science

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Titel
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Autor
Rein, Stefan
Verlag
Springer Verlag
Erscheinungsjahr
2010
Zustand
Brand New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
3642064531
ISBN-13
9783642064531
Artikelgewicht
0,88 Kilogramm
Serie
Buch 3 von 233: Springer Series in Materials Science

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