Lee, Y: Fatigue Testing and Analysis

Lee, Yung-Li|Pan, Jwo|Hathaway, Richard|Barkey, Mark

ISBN 10: 0750677198 ISBN 13: 9780750677196
Verlag: Elsevier Science & Technology|Butterworth-Heinemann, 2004
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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