High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2002

3540418180 / 9783540418184

Serie: Buch 60 von 233 - Springer Series in Materials Science

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The characterisation of materials and material systems is an essential aspect of materials science. A few decades ago it became obvious that, because the properties of materials depend so critically on the microstructure of their components, this characterisation must be determined to the atomic level. This means that the position - as well as the nature - of individual atoms has to be determined at 'critical' regions close to defects such as dislocations, interfaces, and surfaces. The great impact of advanced transmission electron microscopy (TEM) techniques became apparent in the area of semiconducting materials, where the nature of internal interfaces between silicon and the corresponding silicides could be identified, and the results used to enhance the understanding of the properties of the compounds studied. At that time, advanced TEM techniques existed predominantly in the US. However, advanced TEM instrumentation was not available in the ma terials science and solid-state science communities in Germany. This gap was bridged by the late Peter Haasen who, after a visit to the US, initiated a Priority Programme on Microstructural Characterisation at the Volkswagen Foundation (Hannover). The programme was in effect from 1985 to 1997 and supported a wide range of research projects - from fundamental, trendy, innovative projects to projects in applied materials science.

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540418184

Titel
High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
Autor
Manfred Rühle
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2002
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540418180
ISBN-13
9783540418184
Artikelgewicht
936 Gramm
Abmessungen
241x160x33 mm
Serie
Buch 60 von 233: Springer Series in Materials Science

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