Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for . / Materials Physics and Applications)

Robert McDonald,David G. Seiler,Alain C. Diebold

ISBN 10: 0735404410 ISBN 13: 9780735404410
Verlag: American Institute of Physics (edition 2007), 2007
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

Verkauft von BooksRun, Philadelphia, PA, USA

AbeBooks-Verkäufer seit 2. Februar 2016

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Gebraucht - Hardcover

Zustand: Gebraucht - Befriedigend

Preis:
EUR 91,46
Kostenlos für den Versand innerhalb von/der USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen