Neuware -Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope has become the standard reference guide to the instrumentation, physics and procedures involved, and the kind of results obtainable. Within the last few years, the commercial availability of lens-aberration correctors and electron-beam monochromators has further increased the spatial and energy resolution of EELS. This thoroughly updated and revised Third Edition incorporates these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology. The appendices now contain a listing of inelastic mean free paths and a description of more than 20 MATLAB programs for calculating EELS data.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 504 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9781441995827

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Bibliografische Details

Titel: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Verlag: Springer US, Springer US Jul 2011
Erscheinungsjahr: 2011
Sprache: Englisch
ISBN-10: 144199582X
ISBN-13: 9781441995827
Einband: Buch
Auflage: 3. Auflage
Zustand: Neu
Abmessungen: Breite: 241 mm, H�he: 160 mm, Tiefe: 30 mm
Gewicht: 916 Gramm

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope has become the standard reference guide to the instrumentation, physics and procedures involved, and the kind of results obtainable. Within the last few years, the commercial availability of lens-aberration correctors and electron-beam monochromators has further increased the spatial and energy resolution of EELS. This thoroughly updated and revised Third Edition incorporates these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology. The appendices now contain a listing of inelastic mean free paths and a description of more than 20 MATLAB programs for calculating EELS data.

�ber die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teor�a y cr�tica del dise�o y han escrito m�s de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en �xitos de ventas. Tambi�n han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Dise�o del siglo XX, El dise�o industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Dise�o del siglo XXI.

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