Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS

Posser, Gracieli (Author)/ Sapatnekar, Sachin S. (Author)/ Reis, Ricardo (Author)

ISBN 10: 3319488988 ISBN 13: 9783319488981
Verlag: Springer, 2016
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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