Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2016

3319432184 / 9783319432182

Serie: Buch 43 von 68 - SpringerBriefs in Materials

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on the experimental and theoretical aspects of the time-dependent breakdown of advanced dielectric films used in gigascale electronics. Coverage includes the most important failure mechanisms for thin low-k films, new and established experimental techniques, recent advances in the area of dielectric failure, and advanced simulations/models to resolve and predict dielectric breakdown, all of which are of considerable importance for engineers and scientists working on developing and integrating present and future chip architectures. The book is specifically designed to aid scientists in assessing the reliability and robustness of electronic systems employing low-k dielectric materials such as nano-porous films. Similarly, the models presented here will help to improve current methodologies for estimating the failure of gigascale electronics at device operating conditions from accelerated lab test conditions. Numerous graphs, tables, and illustrations are included to facilitate understanding of the topics. Readers will be able to understand dielectric breakdown in thin films along with the main failure modes and characterization techniques. In addition, they will gain expertise on conventional as well as new field acceleration test models for predicting long term dielectric degradation.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783319432182

Titel
Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics : Time Dependent Failure Mechanisms
Autor
Juan Pablo Borja
Verlag
Springer, Berlin, Springer
Erscheinungsjahr
2016
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319432184
ISBN-13
9783319432182
Artikelgewicht
190 Gramm
Abmessungen
239x156x8 mm
Serie
Buch 43 von 68: SpringerBriefs in Materials

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